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扫描电镜观察样品形貌及eds分析实验报告
扫描电镜观察样品形貌及EDS分析实验报告摘要扫描电子显微镜(SEM)是一种广泛用于观察微小物质形貌和表面形貌的显微镜。电子能量损失(EEM)技术(EDS)可以对样品进行表面形貌分析。本文将介绍如何使用...
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简述透射电镜分析的特点和应用
纳瑞科技(北京)有限公司(IonBeamTechnologyCo.,Ltd.)成立于2006年,是由在聚焦离子束(扫描离子显微镜)应用技术领域有着多年经验的技术骨干创立而成。透射电镜分析是一种表征材料...
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简述透射电镜分析的特点及应用
纳瑞科技的服务将为IC芯片设计工程师、IC制造工程师缩短设计、制造时间,增加产品成品率。我们将为研究人员提供截面分析,二次电子像,以及透射电镜样品制备。我们同时还为聚焦离子束系统的应用客户提供维修、系...
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电镜样品厚度分析图片
纳瑞科技(北京)有限公司(IonBeamTechnologyCo.,Ltd.)成立于2006年,是由在聚焦离子束(扫描离子显微镜)应用技术领域有着多年经验的技术骨干创立而成。电镜样品厚度分析是电镜技术...
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简述透射电镜对分析样品的要求有哪些内容
纳瑞科技的服务将为IC芯片设计工程师、IC制造工程师缩短设计、制造时间,增加产品成品率。我们将为研究人员提供截面分析,二次电子像,以及透射电镜样品制备。我们同时还为聚焦离子束系统的应用客户提供维修、系...
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扫描电镜液氮制样
纳瑞科技的服务将为IC芯片设计工程师、IC制造工程师缩短设计、制造时间,增加产品成品率。我们将为研究人员提供截面分析,二次电子像,以及透射电镜样品制备。我们同时还为聚焦离子束系统的应用客户提供维修、系...
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扫描电镜样品的制样步骤有哪些方法和步骤
纳瑞科技的服务将为IC芯片设计工程师、IC制造工程师缩短设计、制造时间,增加产品成品率。我们将为研究人员提供截面分析,二次电子像,以及透射电镜样品制备。我们同时还为聚焦离子束系统的应用客户提供维修、系...
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扫描电镜样品制备技术规范
fib芯片提供维修、系统安装、技术升级换代、系统耗材,以及应用开发和培训。扫描电镜(SEM)是一种广泛用于的材料表征和分析技术。样品制备是SEM技术中至关重要的环节,直接影响到样品的质量和分析结果的准...
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电镜图片怎么分析
电子显微镜(EM)是一种可以观察微小物体的仪器,通过电场和高能电子束的相互作用,可以对样品进行高分辨率成像。电镜图像的分析是电镜研究的关键步骤之一,可以揭示样品中微小物体的结构、形态和化学组成。在这篇...
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透射电子显微镜检定规程
纳瑞科技的服务将为IC芯片设计工程师、IC制造工程师缩短设计、制造时间,增加产品成品率。我们将为研究人员提供截面分析,二次电子像,以及透射电镜样品制备。我们同时还为聚焦离子束系统的应用客户提供维修、系...
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